АСМ-микроскоп NtegraEx с головкой SFC113NTF предназначен для измерения топографии поверхности контактным и полуконтактным методами, а также изучения электрических и магнитных свойств поверхностей. Система позволяет выполнять силовую и электрическую литографию на поверхностях образцов.Установка, наладка и обучение работе с атомно-силовым микроскопом специалистов физико-технического факультета ГрГУ имени Янки Купалы проводились приглашенными специалистами фирм NT-MDT (Россия, http://www.ntmdt.ru) и Solar TII (Беларусь, http://www.solinstruments.com).
В дальнейшем планируется интеграция АСМ-микроскопа с конфокальным романовским микроскопом Nanofinder S с целью создания установки для измерения зондово-усиленного комбинационного рассеяния света. Данная интеграция позволит проводить спектральные исследования с пространственным разрешением до 10 нанометров.
Со всеми новостями физико-технического факультета можно ознакомиться здесь.
