АСМ-мікраскоп NtegraEx з галоўкай SFC113NTF прызначаны для вымярэння тапаграфіі паверхні кантактным і бескантактавым метадамі, а таксама вывучэння электрычных і магнітных уласцівасцяў паверхняў. Сістэма дазваляе выконваць сілавую і электрычную літаграфію на паверхнях узораў.Устаноўка, наладка і навучанне працы з атамна-сілавым мікраскопам спецыялістаў фізіка-тэхнічнага факультэта ГрДУ імя Янкі Купалы праводзіліся запрошанымі спецыялістамі фірмаў NT-MDT (Расія, http://www.ntmdt.ru) і Solar TII (Беларусь, http://www.solinstruments.com).
У далейшым плануецца інтэграцыя АСМ-мікраскопа з канфакальным раманаўскім мікраскопам Nanofinder S з мэтай стварэння ўстаноўкі для вымярэння зондава-ўзмоцненага камбінацыйнага рассейвання святла. Дадзеная інтэграцыя дазволіць праводзіць спектральныя даследаванні з прасторавым дазволам да 10 нанаметраў.
З усімі навінамі фізіка-тэхнічнага факультэта можна азнаёміцца тут.
